Применение и перспективы методов искусственного интеллекта в прогнозировании и оптимизации целостности сигнала в микросистемах

Применение и перспективы методов искусственного интеллекта в прогнозировании и оптимизации целостности сигнала в микросистемах

Раздел находится в стадии актуализации

Целостность сигнала (Signal Integrity, SI) в микросистемах существенно влияет на их производительность. Создание точных и высокоскоростных моделей прогнозирования целостности сигнала в микросистемах и проведение их интеллектуальной оптимизации – актуальная задача. В настоящее время нейронные сети и эвристические алгоритмы оптимизации широко применяются для прогнозирования и оптимизации SI-показателей микросистем. В работе систематически обобщены методы прогнозирования SI-показателей с использованием нейронных сетей, включая искусственные, глубокие, рекуррентные, сверточные, а также нейронные сети, использующие априорные знания. Рассмотрены интеллектуальные алгоритмы оптимизации для целостности сигнала, такие как генетический алгоритм, дифференциальная эволюция, оптимизация роя частиц, глубокая разбиенческая древовидная байесовская оптимизация и двухэтапная байесовская оптимизация. Проведен сравнительный анализ характеристик и областей применения современных методов, спрогнозированы перспективы их развития.
Шань Гуанбао
Сианьский университет электронных наук и технологий, Китай, г. Сиань, 710126, Шэньси, 266 Xinglong Section of Xifeng Road
Ли Голян
Сианьский университет электронных наук и технологий, Китай, г. Сиань, 710126, Шэньси, 266 Xinglong Section of Xifeng Road
Ван Юйсюань
Сианьский университет электронных наук и технологий, Китай, г. Сиань, 710126, Шэньси, 266 Xinglong Section of Xifeng Road
Ци Пэйхан
Сианьский университет электронных наук и технологий, Китай, г. Сиань, 710126, Шэньси, 266 Xinglong Section of Xifeng Road
Гончаренко Владимир Иванович
Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), Россия, 125993, г. Москва, Волоколамское шоссе, 4
Волков Алексей Станиславович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1)
Муратчаев Султансаид Султанханович
Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Россия, 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, 1)

124498, г. Москва, г. Зеленоград, площадь Шокина, дом 1, МИЭТ, ауд. 7231

+7 (499) 734-62-05
magazine@miee.ru